Pyrometer CellaCrystal PX 44

Artikelbeschreibung

Das CellaCrystal PX 44 ist für die optische Temperaturmessung bei der Produktion von Si,und SiC-Kristallen entwickelt worden. Die Kalibrierung ist speziell auf den Züchtungsprozess abgestimmt. Dank der hybriden Signalauswertung mit einer konstant hohen Auflösung von < 0.1 K über den gesamten Messbereich und der sehr hohen Langzeitstabilität dank der Gleichlichtsensorik erfüllt das Gerät die hohen Anforderungen an die erforderliche Messgenauigkeit.

Besondere Merkmale:

Messbereich 750 bis 3000 °C
PX 44 AF 4 spezielle Kalibrierung für die Produktion von Kristallen aus Silizium
PX 44 AF 7 spezielle Kalibrierung für die Produktion von Siliziumkarbid
Hybride Signalauswertung für eine hohe messtechnische Auflösung
Hohe Langzeitstabilität durch minimale Eigenerwärmung
Fokussierbare Optik zur exakten Einstellung der Messentfernung
Serienmäßig: IO-Link-Schnittstelle und Analogausgang

Pyrometer CellaCrystal PX 44

Messbereich		750 - 2400 °C 750 - 2400 °C 850 - 3000 °C
Fokusabstand		0,4 m - ∞ 0,4 m - ∞
Visier		Durchblick-Visier Durchblick-Visier Laser-Pilotlicht Video-Kamera

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Ausführung
Visier

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Menge:

Ausführung	CellaCrystal PX 44 AF 4
Ausführung	CellaCrystal PX 40 AF 7
Messbereich	750 - 2400 °C
Messbereich	850 - 3000 °C
Fokusabstand	0,4 m - ∞
Fokusabstand	0,4 m - ∞
Form des Messfeldes	rund
Distanzverhältnis	150 : 1
Distanzverhältnis	150 : 1
Objektiv	PZ 20.01
Objektiv	PZ 20.01
Messprinzip	quotient
Visiereinrichtung	Durchblick-Visier
Visiereinrichtung	Laser-Pilotlicht
Visiereinrichtung	Video-Kamera

Technische Daten Downloads Messfeld-Kalkulator Emissionsgrad-Kalkulator Applikationsanfrage IO-Link IODD IO-Link Herstellererklärung