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Pyromètre CellaCrystal PX 44

Description de l'article

Le CellaCrystal PX 44 a été développé pour la mesure optique de la température pour la production de cristaux en Si et SiC. L'étalonnage est spécialement adapté à la croissance cristalline. Grâce à l'évaluation hybride des signaux avec une résolution élevée et constante de < 0,1 K sur toute la plage de mesure et à la très grande stabilité à long terme grâce au capteur à lumière continue, l'appareil répond aux exigences élevées quant à la précision de mesure requise.

Caractéristiques particulières:
  • Plage de mesure 750 à 3 000 °C
  • PX 44 AF 4 étalonnage spécial pour la production de cristaux en silicium
  • PX 44 AF 7 étalonnage spécial pour la production de carbure de silicium
  • évaluation hybride des signaux pour une résolution métrologique élevée
  • stabilité élevée à long terme grâce à un auto-échauffement minimal
  • lentille focalisable pour un réglage précis de la distance de mesure
  • en série: interface IO-Link et sortie analogique



Pyromètre CellaCrystal PX 44
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Plus d'informations sur IO-Link:

Version CellaCrystal PX 44 AF 4 
Version CellaCrystal PX 40 AF 7 
Plage de mesure 750 - 2400 °C 
Plage de mesure 850 - 3000 °C 
Distance focale 0,4 m - ∞ 
Distance focale 0,4 m - ∞ 
Forme de la cible rond 
Rapport optique 150 : 1 
Rapport optique 150 : 1 
Objectif PZ 20.01 
Objectif PZ 20.01 
Principe de mesure bichromatique 
Option de visée Visée optique 
Option de visée Pointeur laser 
Option de visée Caméra vidéo