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Pirómetro CellaCrystal PX 44

Descripción del artículo

El CellaCrystal PX 44 ha sido desarrollado para la medición óptica de la temperatura en la producción de cristales de Si y SiC. El calibrado está especialmente adaptado al proceso de cultivo. Gracias a la evaluación híbrida de la señal con una alta resolución constante de < 0.1 K en todo el rango de medición y a la altísima estabilidad a largo plazo gracias a la tecnología de sensor de luz constante, el dispositivo cumple los elevados requisitos de precisión de medición necesarios.

Características especiales:
  • Rango de medición de 750 a 3000 °C
  • PX 44 AF 4 calibración especial para la producción de cristales de silicio
  • PX 44 AF 7 calibración especial para la producción de carburo de silicio
  • Evaluación de señal híbrida para alta resolución metrológica
  • Alta duración Estabilidad gracias al mínimo autocalentamiento
  • Óptica enfocable para un ajuste preciso de la distancia de medición
  • Estándar: interfaz IO-Link y salida analógica



Pirómetro CellaCrystal PX 44
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Más información sobre IO-Link:

Versión CellaCrystal PX 44 AF 4 
Versión CellaCrystal PX 40 AF 7 
Rango de medición 750 - 2400 °C 
Rango de medición 850 - 3000 °C 
Distancia de enfoque 0,4 m - ∞ 
Distancia de enfoque 0,4 m - ∞ 
Forma del campo de visión redondo 
Relación óptica 150 : 1 
Relación óptica 150 : 1 
Objetivo PZ 20.01 
Objetivo PZ 20.01 
Principio de medición de cociente 
Dispositivo de mira Visor a través de la lente 
Dispositivo de mira Puntero láser 
Dispositivo de mira Videocámara