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测温仪 CellaWafer PA 38

文章描述

CellaWafer PA 38 是一款数字测温仪,用于测量 450 至 1800 °C 之间的硅片温度。由于其测量波长非常短且频带窄,该设备特别适用于测量硅片和金属(钨、钼......),并且对被测物体发射率的变化反应不太敏感。

专题报道:
  • 测量范围450至1800 °C
  • 可调焦的可更换光学器件,可精确调整测量距离
  • 宽带抗反射精密光学器件
  • 短波和窄带的光谱范围
  • 特别适用于金属和硅片的精确测量
  • LED显示,可从远处读取
  • 测试电流输出的诊断功能 -模拟输出和USB/RS485 为标准配置



测温仪 CellaWafer PA 38
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版本 CellaWafer PA 38 AF 10 
测温范围 450 - 1800 °C 
焦点距离 0,3 m - ∞ 
测量区域的形状 圆形 
距离系数 40 : 1 
镜头 PA 20.08 
测量原理 单色 
瞄准方式 目镜瞄准 
瞄准方式 激光引导光 
瞄准方式 摄像机