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Folleto CellaTemp PX

Sector industrial	Crecimiento del cristal
Aplicación	Silicio multicristalino
Identifier	Crecimiento del cristal-Silicio multicristalino
Lugar o punto de medición	Masa fundida
Numero de punto de medición	1
Messsystemnummer	1106160
Anmerkung	Vídeocámara
Criterio de selección	Interfaz IO-Link
Applikations Text	Special calibration for silicon (Si) enables very high measuring accuracy at the working temperature exact alignment by means of integrated video camera or through-the-lens sighting

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