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고온계 CellaWafer PA 38

기사 설명

CellaWafer PA 38은 450~1800°C 사이의 웨이퍼 온도를 측정하는 디지털 고온계입니다. 이 장치는 매우 단파 및 협대역 측정 파장으로 인해 실리콘 웨이퍼 및 금속(텅스텐, 몰리브덴 등) 측정에 특히 적합하며 측정 대상의 방사율 변화에 덜 민감하게 반응합니다.

특별한 기능:
  • 측정 범위 450 ~ 1800 °C
  • 정확한 측정 거리 설정을 위한 초점 교환 가능한 광학 장치
  • 광대역 반사 방지 정밀 광학
  • 단파 및 협대역 스펙트럼 범위
  • 금속 및 실리콘 웨이퍼의 정밀 측정에 특히 적합
  • LED 디스플레이
  • 먼 거리에서도 읽을 수 있음
  • 진단 기능을 위한 테스트 전류 출력 -표준: 아날로그 출력 및 USB/RS485


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고온계 CellaWafer PA 38
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버전 CellaWafer PA 38 AF 10 
측정 범위 450 - 1800 °C 
초점 거리 0,3 m - ∞ 
측정 영역의 형태 원형 
거리 비율 60 : 1 
렌즈 PA 20.08 
측정 원리 스펙트럼 
조준 옵션 렌즈를 통한 표적보기 
조준 옵션 레이저 표적 광 
조준 옵션 카메라 화상형