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测温仪 CellaTemp PX 35

文章描述

CellaTemp® PX 35具有非常短波和窄带的光谱灵敏度。因此,与传统的光谱测温仪相比,该测温仪对干扰的反应要小得多,如测温仪视场内的灰尘、蒸汽或烟雾造成的信号衰减,保护屏的污染或目标的辐射率波动。金属有一个物理特性,即辐射率随着较短的辐射波长和较高的物体温度而增加。因此,CellaTemp® PX 35是精确测量金属和非常热的物体的理想选择。此外,高温计还可用于测量薄型半导体,因为半导体在高温计的特殊光谱范围内具有非常好的辐射特性。对于波长>1μm,硅是透明的,所以一个标准的高温计将通过硅来测量其背后材料的温度。

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测温仪 CellaTemp PX 35
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版本 CellaTemp PX 35 AF 1 
版本 CellaTemp PX 35 AF 2 
版本 CellaTemp PX 35 AF 3 
版本 CellaTemp PX 35 AF 4 
版本 CellaTemp PX 35 AF 5 
测温范围 600 - 3000 °C 
测温范围 600 - 3000 °C 
测温范围 600 - 3000 °C 
测温范围 600 - 3000 °C 
测温范围 600 - 3000 °C 
焦点距离 0,4 m - ∞ 
焦点距离 0,2 - 0,4 m 
焦点距离 1,2 m - ∞ 
焦点距离 0,2 m - ∞ 
焦点距离 0,6 m - ∞ 
测量区域的形状 圆形 
距离系数 210 : 1 
距离系数 200 : 1 
距离系数 310 : 1 
距离系数 55 : 1 
距离系数 430 : 1 
镜头 PZ 20.01 
镜头 PZ 20.03 
镜头 PZ 20.06 
镜头 PZ 20.05 
镜头 PA 20.06 
测量原理 单色 
瞄准方式 目镜瞄准 
瞄准方式 激光引导光 
瞄准方式 摄像机