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测温仪 CellaCrystal PX 64

文章描述

CellaCrystal PX 64用于CVD(化学气相沉积)涂层过程的温度测量。由于其特殊的波长,高温计也可用于等离子体增强蒸气沉积。

专题报道:
  • 测量范围 500 – 1400 °C
  • 专为使用等离子体辅助 CVD 过程进行测量而开发
  • 恒定光商测量过程
  • 无旋转滤光片
  • 由于自热极小而具有高长期稳定性
  • 可聚焦光学器件可实现精确测量测量距离的调整
  • 标准:IO-Link接口和模拟输出


测温仪 CellaCrystal PX 64
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版本 CellaCrystal PX 64 AF 2 
测温范围 500 - 1400 °C 
焦点距离 0,2 - 0,4 m 
测量区域的形状 圆形 
距离系数 75 : 1 
镜头 PZ 20.03 
测量原理 双色 
瞄准方式 目镜瞄准 
瞄准方式 激光引导光 
瞄准方式 摄像机