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测温仪 CellaCrystal PA 44

文章描述

CellaCrystal PA 44已被开发用于晶体培养中的光学温度测量。校准特别适用于晶体的生产。结合整个测量范围内<0.1K的持续高分辨率和非常高的长期稳定性,该设备满足了必要的高测量精度要求。在透镜瞄准器、激光引导灯或视频摄像头的帮助下,测温仪可以精确地对准测量点。

专题报道:
  • 测量范围 750 至 3000 °C
  • PA 44 AF 4/5:用于晶体生产的特殊校准
  • PA 44 AF 7:用于碳化硅生产的特殊校准
  • 高计量分辨率的混合信号评估
  • 高长期稳定性 最小自发热
  • 用于精确调整测量距离的可聚焦光学器件
  • 标准:模拟输出和 USB/RS 485 接口



测温仪 CellaCrystal PA 44
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版本 CellaCrystal PA 44 AF 4 
版本 CellaCrystal PA 44 AF 5 
版本 CellaCrystal PA 44 AF 7 
版本 CellaCrystal PA 44 AF 9 
测温范围 750 - 2400 °C 
测温范围 750 - 2400 °C 
测温范围 850 - 3000 °C 
测温范围 850 - 3000 °C 
焦点距离 0,4 m - ∞ 
焦点距离 0,2 - 0,4 m 
焦点距离 0,4 m - ∞ 
焦点距离 1,2 m - ∞ 
测量区域的形状 圆形 
距离系数 150 : 1 
距离系数 140 : 1 
距离系数 150 : 1 
距离系数 240 : 1 
镜头 PZ 20.01 
镜头 PZ 20.03 
镜头 PZ 20.01 
镜头 PZ 20.06 
测量原理 双色 
瞄准方式 目镜瞄准 
瞄准方式 激光引导光 
瞄准方式 摄像机