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测温仪 CellaCrystal PA 64

文章描述

CellaCrystal PA 64已被开发出来,用于等离子体辅助CVD工艺的晶体生长过程中的光学温度测量。由于采用了商数测量方法和特殊波长,测量受等离子体的影响最小。结合整个测量范围内<0.1K的恒定高分辨率和非常高的长期稳定性,该设备满足了必要的高测量精度要求。在透镜瞄准器、激光引导灯或视频摄像头的帮助下,测温仪可以精确地对准测量点。

专题报道:
  • 测量范围 500 – 1400 °C
  • 专为使用等离子体辅助 CVD 过程进行测量而开发
  • 恒定光商测量过程
  • 无旋转滤光片
  • 由于自热极小而具有高长期稳定性
  • 可聚焦光学器件可实现精确测量测量距离调节
  • 标准:模拟输出和USB/RS 485接口



测温仪 CellaCrystal PA 64
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版本 CellaCrystal PA 64 AF 2 
测温范围 500 - 1400 °C 
焦点距离 0,2 - 0,4 m 
测量区域的形状 圆形 
距离系数 75 : 1 
镜头 PZ 20.08 
测量原理 双色 
瞄准方式 目镜瞄准 
瞄准方式 激光引导光 
瞄准方式 摄像机