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测温仪 CellaCrystal PA 45

文章描述

CellaCrystal PA 45 是专为晶体生长过程中温度高达 3200 ℃ 的高温炉中的光学温度测量而开发的。该测温仪采用商数测量法,测量范围大,整个测量范围内的分辨率始终保持在 < 0.1 K。 特殊的信号处理确保了极高的测量精度。因此,该设备能够满足生产过程中对长期稳定性的高要求。 测温仪可通过透镜瞄准器或摄像机精确对准测量点。

专题报道:
  • 测量范围为 900 至 3200 °C
  • 特别适用于在极高工艺温度下生产晶体
  • 混合信号评估,具有极高的计量分辨率
  • 由于自热极小,因此具有极高的长期稳定性
  • 可对焦光学器件,用于精确调节测量距离
  • 视场窄,可通过小炉口进行测量
  • 标准配置:模拟输出和 USB/RS 485 接口



测温仪 CellaCrystal PA 45
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版本 CellaCrystal PA 45 AF 1 
版本 CellaCrystal PA 45 AF 2 
版本 CellaCrystal PA 45 AF 3 
版本 CellaCrystal PA 45 AF 5 
测温范围 900 - 3200 °C 
测温范围 900 - 3200 °C 
测温范围 900 - 3200 °C 
测温范围 900 - 3200 °C 
焦点距离 0,4 m - ∞ 
焦点距离 0,2 - 0,4 m 
焦点距离 1,2 m - ∞ 
焦点距离 0,6 m - ∞ 
测量区域的形状 圆形 
距离系数 210 : 1 
距离系数 140 : 1 
距离系数 310 : 1 
距离系数 430 : 1 
镜头 PZ 20.01 
镜头 PZ 20.03 
镜头 PZ 20.06 
镜头 PA 20.06 
测量原理 双色 
瞄准方式 目镜瞄准 
瞄准方式 激光引导光 
瞄准方式 摄像机