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Technische Daten

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Industrie Kristallzüchtung
Anwendung Multikristallines Silizium
Identifier Kristallzüchtung-Multikristallines Silizium
Messstelle Tiegel
Messstellennummer 1
Messsystemnummer 1106159
Anmerkung Durchblick-Visier
Auswahlkriterium IO-Link Schnittstelle
Applikations Text
  • Spezielle Kalibrierung für Silizium (Si) ermöglicht sehr hohe Messgenauigkeit bei der Arbeitstemperatur
  • Exakte Ausrichtung durch integrierte Videokamera oder Durchblickvisier

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Prospekt CellaTemp PX
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IO-Link IODD

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